Продвинутый вертикальный металлографический микроскоп
Передовой инвертированный металлографический микроскоп PMM-3LI (светлое и тёмное поле) разработан для удовлетворения потребностей полупроводниковой отрасли, производства кремниевых пластин, отрасли информационных технологий и металлургической промышленности. Являясь высокотехнологичным металлографическим микроскопом для пользователей, он позволяет оценить его выдающиеся эксплуатационные характеристики и широко применяется для анализа смазочных материалов, полупроводников, плоских дисплеев, упаковки микросхем, подложек микросхем, различных материалов, литых изделий, металлических и керамических компонентов, а также прецизионных форм.